製程能力介紹 Cp(精度)之製程能力解釋| 電子製造 - 工作狂人

Cp（Precision）又稱為精度指標。

以打靶為例，打靶六發子彈，每一發子彈越集中於一點，則Cp值就越高。

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Home 塑膠射出 電路板組裝 統計製程管制 工作熊 文章轉載原則 廣告托播服務 徵求客座文章 下載 留言板 製程能力介紹─Cp(精度)之製程能力解釋 Postedby工作熊 1710月,2010 Cp之製程能力解釋 Cp（Precision）又稱為精度指標。

以打靶為例，打靶六發子彈，每一發子彈越集中於一點，則Cp值就越高。

從常態分配的特性來看，在群體中的±3σ(標準差)範圍內之值，應包含群體全部的99.73%。

也就是說，若以6σ為單位，應該可以大致代表整個群體分布的範圍，但也將會有(100-99.73=)0.27%(2700ppm)的不良率。

一般來說，衡量製程能力最主要是在衡量其分布之『寬度』，寬度越寬即代表其製程能力越不足，越窄則代表其製程能力越好。

但要窄到什麼程度才算好？寬到哪一個程度才算差？因此我們拿6σ與規格寬度(T)做比較，來作為衡量的指標，這就是Cp的精神了。

Cp之計算式 Cp=T/(6σp) 也就是群體之實際寬度(6σ)在期望之寬度(T)中所佔的比率。

因此Cp是越大越好。

    (1)規格為雙邊時 Cp=T/(6σp)，T=規格上限(USL)–規格下限(LSL)     (2)上限規格時 Cp=(USL-X)/(3σp)，USL為規格上限；X為群體中心(平均值)若X>USL，則Cp=0某些尺寸的期望值為0之單邊規格，如平面度，真圓度，同心度…等。

其規格下限為0，我們可以用兩側之規格來考慮，亦即Cp=(USL-0)/(6σp)     (3)下限規格時 Cp=(X-LSL)/(3σp)，LSL為規格下限；X為群體中心(平均值)若X