X光繞射原理與材料結構分析許樹恩吳泰伯中國材料科學學會 ...

本文將針對X 光繞射原理及其在材料分析上之應用，做一簡單的介紹。 ... X 光繞射原理1913 年W.L. Bragg 父子在從事晶體結構分析實驗中，從散射X 光的分佈情形，他們 ...

面平整的ZnO(10-10)薄膜，由X光繞射儀(X-Ray Diffraction, XRD)顯示成長 ... TEM擇區繞射(Select Area Diffraction, SAD)圖形分析...

析，繞射峰形分析，優選織構測定，非晶質散射，平面缺陷與薄. 膜分析. 31. Ref. 許樹恩, 吳泰伯, X光繞射原理與材料結構分析, 中國材料科學學會, 1993.

【中文書】 書名: X光繞射原理與材料結構分析作者: 許樹恩. 吳泰伯出版社: 中國材料科學學會ISBN : 9579895414 作者簡介許樹恩國立台灣大學材料所教授吳泰伯國立清華 ...

2. 薄膜材料低掠角繞射. 相鑑定分析(2θ scan or GIXRD scan). 材料晶相鑑定，採低掠角入射. (0.5～3 度入射角)，降低平行基. 板的晶面繞射訊號。主要鑑定表. 層材...