X光螢光分析儀 - 中央大學地球科學學系

X光螢光分析儀（X-ray Fluorescence，簡稱XRF），藉由X光管產生一級X光，通過濾光片 ... 儀器原理. X射線光管發射的原級X射線入射至樣品，激發樣品中各元素的特徵譜線 ... 系所介紹 歷史延革 教育理念 簡介摺頁 研究室 實驗室 科研設備 科研設備 科研設備 × 科研設備 叢集式平行運算電腦 海洋深拖側掃聲納系統 震盪震源車 地震儀及懸吊式P-S波速度量測系統 重力儀及磁力儀 衛星同步大地電磁儀 熱場發射掃描式電子顯微鏡 海底地震儀 X光繞射儀 X光螢光分析儀 高溫熱導係數分析儀 雷射粒徑分析儀 關閉 科研設備 叢集式平行運算電腦 海洋深拖側掃聲納系統 震盪震源車 地震儀及懸吊式P-S波速度量測系統 重力儀及磁力儀 衛星同步大地電磁儀 熱場發射掃描式電子顯微鏡 海底地震儀 X光繞射儀 X光螢光分析儀 高溫熱導係數分析儀 雷射粒徑分析儀 X光螢光分析儀 儀器及規格簡介 X光螢光分析儀（X-rayFluorescence，簡稱XRF），藉由X光管產生一級X光，通過濾光片除去雜質射線後，照射至樣品表面，激發樣品中所有特性譜線元素，釋放二級X光（即X光螢光）。

依靈敏度或解析度之選擇，設定通過準直器及分光晶體之條件，最後進入偵檢器（計數器）中。

X光光子能量轉換成電壓脈波輸出，透過PHA（PulseHeightAnalysis）決定脈波高度上下限，確保待測元素訊號強度之完整性，再經由標準品所建立之檢量線，計算樣品中元素成分及濃度，達到定量分析目的。

本儀器具有分析元素濃度範圍廣（ppm~100%）、快速分析及非破壞性分析之優點。

儀器樣品分析規格特點：可分析Be到U之間的元素；含量範圍從亞ppm到100%；精度0.05%（相對）；樣品類型：粉末、固體、液體、氣體、鍍層、泥漿、膜、濾膜沉積物等等；樣品尺寸，鬆散粉末和液體最多50ml。

儀器原理 X射線光管發射的原級X射線入射至樣品，激發樣品中各元素的特徵譜線 分光晶體將不同波長的X射線分開 計數器記錄經分光的特定波長的X射線光子N 根據特定波長X射線光子、N的強度，計算出與該波長對應的元素的濃度 圖一、儀器結構原理圖 圖二、S8Tiger的X射線光路圖 圖三、儀器應用不同標準分光晶體分析元素的測試範圍 圖四、S8tiger主機（左）、自動送樣臺（右） 樣本製備方法、標準樣測試結果 圖五、樣品製備方法示意圖 圖六、標準樣品測試結果