XRD圖譜中某個衍射峰的峰高峰寬和峰面積分別表示什麼 - 極客派
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晶體化程度越高,相應的峰越高. 峰寬:一般分析最多的數值是fwhm(半峰全寬). 峰寬受很多因素影響:.
XRD圖譜中某個衍射峰的峰高峰寬和峰面積分別表示什麼
2021-04-2112:27:09字數2542閱讀9175
1樓:天蠍小灰馬
首先來要區別是什麼物質的xrd圖譜,比如單源晶、多bai晶(粉末)等
du.峰高:對多晶來說,峰高由同zhi方向排列的
dao晶面分佈數量(texture)決定,即:若所有晶粒為同方向排列,則此時各個晶面的峰高要大於無規律排列的晶粒.而同一圖譜中不同峰高則是由每個峰對應的晶面數量決定.
另外,如果樣品不為純晶體,而同時存在非晶體的情況下,不同xrd影象同一位置角度對應的峰高不同則反映了晶體成分的多少.晶體化程度越高,相應的峰越高.
峰寬:一般分析最多的數值是fwhm(半峰全寬).峰寬受很多因素影響:
從儀器角度說,因素為所用x射線的波長分佈,即使是單色x射線也不完全只有唯一確定波長;從多晶樣品角度說,fwhm和晶粒大小成反比,即,晶粒直徑越小對應的fwhm越大,具體計算可以參考scherrerequation.
峰面積:也稱為integralintensity.這個值同樣不是由某單一值決定,和樣品本身相關的量有:
該峰對應晶面的數量,晶胞體積,晶粒體積,structurefactor等.
以上只是粗略說明,具體情況還是需要具體分析.
2樓:天蠍小灰馬
首先要區別復是什麼物質的xrd圖譜,比如制單晶、多晶bai(粉末)等du.
峰高:對多晶zhi來說,峰高由同方向排dao列的晶面分佈數量(texture)決定,即:若所有晶粒為同方向排列,則此時各個晶面的峰高要大於無規律排列的晶粒.
而同一圖譜中不同峰高則是由每個峰對應的晶面數量決定.
另外,如果樣品不為純晶體,而同時存在非晶體的情況下,不同xrd影象同一位置角度對應的峰高不同則反映了晶體成分的多少.晶體化程度越高,相應的峰越高.
峰寬:一般分析最多的數值是fwhm(半峰全寬).峰寬受很多因素影響:
從儀器角度說,因素為所用x射線的波長分佈,即使是單色x射線也不完全只有唯一確定波長;從多晶樣品角度說,fwhm和晶粒大小成反比,即,晶粒直徑越小對應的fwhm越大,具體計算可以參考scherrerequation.
峰面積:也稱為integralintensity.這個值同樣不是由某單一值決定,和樣品本身相關的量有:
該峰對應晶面的數量,晶胞體積,晶粒體積,structurefactor等.
以上只是粗略說明,具體情況還是需要具體分析.
請教一下晶體衍射xrd圖譜中,峰的數目,高度,寬度,以及出峰的位置代表什麼意思?
3樓:匿名使用者
數目:產生衍射的晶面數量
高度:衍射強度
寬度:晶面對應的倒易杆大小,對應產生衍射的晶面d值離散程度,或者是晶粒大小
峰的位置:晶面d值
算d值一般不用第一個峰,要用高角峰,減小測角相對誤差
xrd晶粒尺寸計算
4樓:借過
謝樂公式的應用方法dc=0.89λ/(bcosθ)(λ為x射線波長,b為衍射峰半高寬,θ為衍射角)雙線法(williams-hall)測定金屬晶體中的微觀應力晶塊尺寸小於0.1μm,且有不均勻應變時衍射線寬化。
可用謝樂方程或hall法作定量計算。
1衍射線寬化的原因用衍射儀測定衍射峰的寬化包括儀器寬化和試樣本身引起的寬化。
試樣引起的寬化又包括晶塊尺寸大小的影響、不均勻應變(微觀應變)和堆積層錯(在衍射峰的高角一側引起長的尾巴)。
後二個因素是由於試樣晶體結構的不完整所造成的。
2謝樂方程若假設試樣中沒有晶體結構的不完整引起的寬化,則衍射線的寬化僅是由晶塊尺寸造成的,而且晶塊尺寸是均勻的,則可得到謝樂方程:式中size表示晶塊尺寸(nm),k為常數,一般取k=1,λ是x射線的波長(nm),fw(s)是試樣寬化(rad),θ則是衍射角(rad)。
計算晶塊尺寸時,一般採用低角度的衍射線,如果晶塊尺寸較大,可用較高衍射角的衍射線來代替。
此式適用範圍為1-100nm。
3微觀應變引起的線形寬化如果存在微觀應力,衍射峰的加寬表示為:
式中strain表示微觀應變,它是應變數對面間距的比值,用百分數表示。
4hall方法測量二個以上的衍射峰的半高寬fw(s),由於晶塊尺寸與晶面指數有關,所以要選擇同一方向衍射面,如(111)和(222),或(200)和(400)。
以為橫座標,作圖,用最小二乘法作直線擬合,直線的斜率為微觀應變的兩倍,直線在縱座標上的截距即為晶塊尺寸的倒數。
5半高寬、樣品寬化和儀器寬化樣品的衍射峰加寬可以用半高寬來表示,樣品的半高寬fwhm是儀器加寬fw(i)和樣品性質(晶塊尺寸細化和微觀應力存在)加寬fw(s)的卷積。
為了求得樣品加寬fw(s),必須建立一個儀器加寬fw(i)與衍射角θ之間的關係,也稱為fwhm曲線。
該曲線可以通過測量一個標樣的衍射譜來獲得。
標樣應當與被測試樣的結晶狀態相同,標樣必須是無應力且無晶塊尺寸細化的樣品,晶粒度在25μm以上,如nista60si和lab6等注意事項:1晶粒大於100奈米以上,用謝樂公式不太準確,因為其半高寬的原因。
最準確的是在40nm左右,但是,低於100nm我們都用謝樂公式來算2謝樂公式只適合球形粒子對立方體粒子常數應改為0.
943半高寬應該轉化為弧度制半高寬/180再乘以3.14
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