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XRD原理及其应用
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2017-09-06上传
11页
1912 年,德國物理學家 Max Von Laue 以 X 光照射硫酸銅晶體(CuSO4 . 5H2O)發現繞射現象,除了證實X光具有波動的特性以及晶體內部組成原子呈 規則排列之外,同時也為材料科學研究提供了十分基本而有效的研究方法。
本 文將針對 X 光繞射原理及其在材料分析上之應用,做一簡單的介紹。
前 言
自從 1985 年德國物理學家倫琴(Wilhelm Roentgen)發現 X 光後,因為它具有穿透物質
的能力,並可使底片感光,人們便利用此 X 光照相術來觀察骨折情況或有關金屬裂縫之 分析。
直到二十世紀初期, X 光晶學的發 展,透過 X 光的繞射可以進一步間接地從原 子的尺度(約為 10-8cm左右)來探知物質內部 的微結構,正如同顯微鏡觀察物質微觀世界 一樣,再加上配合一些記錄 X 光訊號之計數 器的改良,使得 X 光繞射結晶學在礦物學、 物理學、化學、生物學及材料科學等方面, 無論研究或分析應用皆日漸重要,成為不可 或缺之工具。
基本結晶學
物質依照內部組成原子排列的規則與否 可分為晶體(Crystalline)與非晶體(Amorphous) 兩類。
非晶體內原子彼此散亂聚合,而晶體 內部之組成原子(或分子)是規則有序地排列 在任何方向上,亦即具有高度週期性。
這些
X 光繞射原理及其應用
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莊君毅
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