RCAS-研究設施 - RCAS-Sinica - 中央研究院

使用者需於中央研究院之預算管理系統設有帳號，使用費於每年四、七、十月，透過轉賬 ... The Leica TCS SP5 Confocal fully covers a broad range of requirements in ... Togglenavigation 中心簡介 中心成員 研究設施 演講活動 內部系統 聯絡資訊 English 首頁 研究設施 研究設施 最新研究成果 本中心儀器/設備 管理規則: 使用者需於中央研究院之預算管理系統設有帳號，使用費於每年四、七、十月，透過轉賬機制收取。

如有未付清之使用費，將暫時停止該團隊之使用權直到付清，且管理者得要求使用者預繳與前期相同金額之使用費，方恢復其使用權。

儀器僅供合格使用者，於開放時段內自行操作，且無技術員可提供委託服務。

合格使用者可自行訓練新進人員，並經管理人員考核通過後，成為合格使用者。

如需要管理人員進行操作訓練，相關時段之使用費以二倍計收。

如有違規或不當操作造成儀器損壞，使用者除需照價賠償以便修復外，並需支付停機維修期間所有開放時段之使用費。

中研院院內使用者得有七折優惠，中研院奈米計劃使用者得有五折優惠，應科中心使用者得有三折優惠。

不得使用毒性化學物質（不論是否列管），或具有揮發性、放射性、爆炸性、生物活性等物質，管理人員得依個別儀器特性，拒絕其他（包含，但不受限於）如磁性、粉體等樣品之使用。

若未經許可使用上述物質，該使用者所屬團隊將永久禁止使用。

儀器預約系統 預約 微製程室: 微製程室申請使用流程： 1.必須通過中央研究院新進同仁實驗安全教育 2.自行觀看簡介內容及使用規定 3.繳交申請書後由專人進行實地訓練 4.以簡介內容使用規定及實地訓練內容進行考核 5.考核通過始得門禁許可 6.門禁取得後方可進行機台訓練 收費標準： 微製程室申請訓練費1000元 微製程室基本使用費2000元/半年 微製程室使用申請及付費同意書 微製程室使用規定 微製程室實驗安全簡介 主要儀器/設備如下: FIB TheHeliosdual-beamsystemcombinesFEI'sbestelectronandionoptics,accessoriesandsoftwaretodeliverapowerfulsolutionforadvancednanoscaleresearch.Electronbeamsourcewithasmallkineticenergyisusedtotakehigh-resolutionSEMimages.Theresolutioncanreachseveralnm.DuetothehigherenergyofGaionthanoneoftheelectroninthesameacceleratedvoltage,itallowsustomillsomespecificstructuresonsamples.Millinglinewidthiscontrolledfrom10nmtotensmicrometers.Additionally,forbio-sample,toavoidtheirdeformationinanultrahighvacuumenvironment,thedual-beamsystemcombinesacryochambertokeeptheirnaturepropertyviaafreezeprocess. Nova200NanoSEM ScanningElectronMicroscope(SEM)Usingaelectronbeam,surfacestructurescanbeobserveddirectlywithnmspatialresolution.Dedicatetwo-channelsolid-statedetectorprovidestopographicorZ-contrastusingback-scatteredelectrons.ThesystemisalsomodifiedtoserveasSTEMforBF/DF/HAADFoperation.CombinewiththeX-rayEnergyDispersiveSpectroscopy(XEDS,OxfordX-Max80mm2SiliconDriftDetector(SDD),thechemicalcompositioncanalsobedeterminedinamannerofpoint-and-click.Specimensmustbevacuumcompatibleandinformsofthin-filmorbulkwithaflatsurface.Particlesandwetsamplesarenotallowed.Toprovideastableenvironment,activevibrationisolator(HERZAVI-200S)isusedtosupportthemicroscope. LeicaConfocalMicroscope(SP5) TheLeicaTCSSP5Confocalfullycoversabroadrangeofrequirementsinconfocalandmultiphotonimagingwithexcellentoverallperformance.Thesystemprovidesthefullrangeofscanspeedsatthehighestresolution.Withitsproven,high-efficiencySPdetection(fivechannelssimultaneously)andoptionalAOBS(AcoustoOpticalBreamSplitter),theLeicaTCSSP5deliversbright,noise-freeimageswithminimalphotodamageathighspeed.ThesystemisalsotheplatformforthenewLeicaDM6000CFS(ConfocalFixedStage)forphysiologicalandelectrophysiologicalexperimentsandforthenewsuperresolutionLeicaTCSSTEDconfocalmicroscope. PHITRIFTVnanoToF Time-of-FlightSecondaryMassSpectrometryBasedonenergeticionbombardment,secondaryions(SIs)aregenerated.ByaccelerateSIswithconstantenergy,ionsofdifferentm/zrequiredifferenttimestopassa2mflightpathandareseparated.Usingpulsedprimarybeamoflowcurrent,interactiondepthofsub-monolayercanbecontrolledasstaticSIMS(S-SIMS).Specimens(＜1"indiameter)mustbeUHVcompatibleandinformsofthin-filmorbulkwithaflatsurface.Particlesandwetsamplesarenotallowed.Tominimizetheenvironmentalinterferencetothehighresolutionwork,activefieldcancelingsystem(SpicerConsultingSC20)isusedtocontrolthesumofDC-5kHzelectromagnetictobe＜0.07mGandactivevibrationisolator(HERZAVI-200S/M/LP)isusedtosupportthesystem. PHIVersaProbe ScanningXPSMicroprobeInanultra-highvacuum(UHV)chamber(10-7~10-8Pa),photoelectronsareexcited.Astheescapedepthisshallow,theinformationcamefromthetopfewnm.Combinewithinsituionsputtering,onecanslowlyremovethesurfaceandacquirespectrafromdifferentdepthtoconstructthedepthprofile.Thespecimentemperaturecanbecontrolledbetween-120to500°Cduringanalysis.Incombinationithaquadrupolemassanalyzer,thissystemalsoservesasadynamicsecondaryionmassspectrometer(D-SIMS)foranalyzingsoftmaterials.Specimens(＜1"indiameter)mustbeUHVcompatibleandinformsofthin-filmorbulkwithaflatsurface.Particlesandwetsamplesarenotallowed. SimonAuto-Western Simonauto-westernASimpleWesternisanautomatedWestern-nogels,notransferdevices,noblots,nofilmandnomanualanalysis.JustloadyoursamplesinSimonandpressstart.Simonautomatesallstepsoftheprocessincludingsampleloading,size-basedproteinseparation,immunoprobing,washing,detectionanddataanalysisforupto12samplessimultaneously. VeecoInnovaSPM ScanningProbeMicroscope(SPM)Usingavarityofprobes,awiderangeofsurfacechemical,physical,mechanical,andelectricalpropertiescanbestudiedwithhighspatialresolution(ThesystemissittingonaHalcyoncsMicro40activevibrationisolationplatform.Thevibrationlevelonthesurfaceisbetterthan5dBat＜10Hzand＜0dBforhigherfrequencies